设备介绍
表征与分析
    • 设备名称:台式扫描电子显微镜设备型号:JCM-7000厂 家:JEOL设备编号:20023020设备分类:表征与分析设备功能简介:表面形貌及元素分析。设备性能指标:1、图像放大倍率…
    • 设备名称:电子背散射衍射(EBSD)设备型号:Velocity™ Plus厂 家:EDAX设备编号:A21000029设备分类:表征与分析设备功能简介:表面晶型及晶面取向分析。设备性能指标…
    • 设备名称:热场发射扫描电镜设备型号:Quanta FEG 450厂 家:FEI Company设备编号:15008701设备分类:表征与分析设备功能简介:表面形貌及元素分析。设备性能指标:1、…
    • 设备名称:光学膜厚测量仪设备型号:F40-UV厂 家:Filmetrics设备编号:22001617设备分类:表征与分析设备功能简介:光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品…
    • 设备名称:椭圆偏振光谱仪设备型号:UVISEL厂 家:Horiba Jobin Yvon设备编号:10013202设备分类:表征与分析设备功能简介:椭偏仪是一种探测薄膜厚度、光学常数以及材料…
    • 设备名称:拉曼光谱测试仪设备型号:HR Evolution厂 家:HORIBA设备编号:22017649设备分类:表征与分析设备功能简介:拉曼光谱测试仪利用拉曼效应,基于光和材料相互作…
    • 设备名称:傅里叶变换红外光谱仪设备型号:Nicolet iN10MX厂 家:ThermoFisher设备编号:22041433设备分类:表征与分析设备功能简介:傅里叶变换红外光谱仪兼具显微镜和…
    • 设备名称:薄膜应力计设备型号:FLX-2320厂 家:TOHO设备编号:12030409设备分类:表征与测试设备功能简介:在硅片等基板上附膜时,由于基板和薄膜的物理定数有异,产生…