表征与分析
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设备名称：台阶仪设备型号：Dektak-XTL厂 家：Bruker设备编号：A24000004设备分类：测试设备功能简介：台阶仪主要用于薄膜厚度测量和材料表面沟槽以及材料形貌表征，具有…
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设备名称：台阶仪（P17）设备型号：P17厂 家：KLA Tencor设备编号：23014342设备分类：表征与分析设备功能简介：兼容8英寸及以下尺寸wafer；薄膜厚度测量；区域轮廓扫描…
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设备名称：台阶仪设备型号：P7厂 家：KLA-Tencor设备编号：21012469设备分类：表征与分析设备功能简介：台阶仪属于接触式表面形貌测量仪器。当触针沿被测表面轻轻滑过时…
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设备名称：数字全息显微镜设备型号：DHM R2104厂 家：Lyncee Tec设备编号：19010239设备分类：表征与分析设备功能简介：数字全息显微镜通过CCD相机拍摄记录含有被观测样…
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设备名称：共聚焦显微镜系统设备型号：DCM-8厂 家：Leica设备编号：21015370设备分类：表征与分析设备功能简介：可以对8寸及以下样品上不透明或半透明结构进行3D形貌观测…
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设备名称：金相显微镜Leica厂 家：Leica设备编号：A19000001设备分类：表征与分析设备功能简介：用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。设备性能指标：1、观…
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设备名称：金相显微镜设备型号：MX51厂 家：Olympus设备编号：11001102设备分类：表征与分析设备功能简介：用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。设备性能指…
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设备名称：金相显微镜MX61-1设备型号：MX61厂 家：Olympus设备编号：A17000004设备分类：表征与分析设备功能简介：用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。设…
