表征与分析
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设备名称：X射线光电子能谱分析仪设备型号：AXIS Supra＋厂 家：岛津设备编号：22009069设备分类：表征与分析设备功能简介：表面元素及其化学态分析，表面清洁/刻蚀，价…
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设备名称：椭圆偏振光谱仪设备型号：UVISEL厂 家：Horiba Jobin Yvon设备编号：10013202设备分类：表征与分析设备功能简介：椭偏仪是一种探测薄膜厚度、光学常数以及材料…
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设备名称：拉曼光谱测试仪设备型号：HR Evolution厂 家：HORIBA设备编号：22017649设备分类：表征与分析设备功能简介：拉曼光谱测试仪利用拉曼效应，基于光和材料相互作…
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设备名称：傅里叶变换红外光谱仪设备型号：Nicolet iN10MX厂 家：ThermoFisher设备编号：22041433设备分类：表征与分析设备功能简介：傅里叶变换红外光谱仪兼具显微镜和…
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设备名称：薄膜应力计设备型号：FLX-2320厂 家：TOHO设备编号：12030409设备分类：表征与测试设备功能简介：在硅片等基板上附膜时，由于基板和薄膜的物理定数有异，产生…
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设备名称：台阶仪设备型号：Dektak-XTL厂 家：Bruker设备编号：A24000004设备分类：测试设备功能简介：台阶仪主要用于薄膜厚度测量和材料表面沟槽以及材料形貌表征，具有…
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设备名称：台阶仪（P17）设备型号：P17厂 家：KLA Tencor设备编号：23014342设备分类：表征与分析设备功能简介：兼容8英寸及以下尺寸wafer；薄膜厚度测量；区域轮廓扫描…
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设备名称：台阶仪设备型号：P7厂 家：KLA-Tencor设备编号：21012469设备分类：表征与分析设备功能简介：台阶仪属于接触式表面形貌测量仪器。当触针沿被测表面轻轻滑过时…
