表征与分析
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设备名称：X射线显微镜设备型号：Xradia 620 Versa厂 家：ZEISS设备编号：24031787设备分类：测试设备功能简介：利用X射线投影图进行三维重构，对大尺寸样品进行高分辨率…
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设备名称：台式扫描电镜设备型号：Phenom XL厂 家：飞纳科学仪器有限公司设备编号：25006622设备分类：测试设备功能简介：台式扫描电镜，光学定位，伪3D彩图，拼图设备参…
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设备名称：台式扫描电子显微镜设备型号：JCM-7000厂 家：JEOL设备编号：20023020设备分类：表征与分析设备功能简介：表面形貌及元素分析。设备性能指标：1、图像放大倍率…
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设备名称：扫描探针显微镜系统设备型号：DIMENSION ICON厂 家：BRUKER设备编号：20004384设备分类：表征与分析设备功能简介：三维形貌表征，导电原子力、静电力显微镜、…
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设备名称：高分辨场发射扫描电镜设备型号：GeminiSEM 300厂 家：ZEISS设备编号：20009957设备分类：表征与分析设备功能简介：表面形貌及元素分析。设备性能指标：1、配备…
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设备名称：电子背散射衍射（EBSD）设备型号：Velocity™ Plus厂 家：EDAX设备编号：A21000029设备分类：表征与分析设备功能简介：表面晶型及晶面取向分析。设备性能指标…
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设备名称：热场发射扫描电镜设备型号：Quanta FEG 450厂 家：FEI Company设备编号：15008701设备分类：表征与分析设备功能简介：表面形貌及元素分析。设备性能指标：1、…
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设备名称：光学膜厚测量仪设备型号：F40-UV厂 家：Filmetrics设备编号：22001617设备分类：表征与分析设备功能简介：光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品…
