表征与分析
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设备名称：氦氖镓三束微纳离子显微镜设备型号：Orion NanoFab厂 家：Zeiss设备编号：A21000026设备分类：表征与分析，刻蚀设备功能简介：离子显微镜通过汇聚并控制离子束…
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设备名称：拉曼光谱测试仪设备型号：HR Evolution厂 家：HORIBA设备编号：A22000037设备分类：表征与分析设备功能简介：拉曼光谱测试仪利用拉曼效应，基于光和材料相互作…
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设备名称：金相显微镜MX61-1设备型号：MX61厂 家：Olympus设备编号：A17000004设备分类：表征与分析设备功能简介：用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。设…
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设备名称：金相显微镜Leica厂 家：Leica设备编号：A19000001设备分类：表征与分析设备功能简介：用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。设备性能指标：1、观…
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设备名称：傅里叶变换红外光谱仪设备型号：Nicolet iN10MX厂 家：ThermoFisher设备编号：A22000039设备分类：表征与分析设备功能简介：傅里叶变换红外光谱仪兼具显微镜和…
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设备名称：共聚焦显微镜系统设备型号：DCM-8厂 家：Leica设备编号：A18000075设备分类：表征与分析设备功能简介：可以对8寸及以下样品上不透明或半透明结构进行3D形貌观…
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设备名称：光学膜厚测量仪设备型号：F40-UV厂 家：Filmetrics设备编号：A18000072设备分类：表征与分析设备功能简介：光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品…
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设备名称：薄膜电阻测量仪设备型号：CDE 463 ResMap厂 家：Creative Design Engineerubg，Inc.设备编号：A21000093设备分类：表征与分析设备功能简介：适用于各种基底材…
