设备名称：存储器老化测试系统-IT&T B3000ES

设备型号：B3000ES

厂 家：IT&T CO.,Ltd

设备编号：18026683

设备分类：可靠性测试

设备功能简介：

在高温环境下进行pattern测试，测试集成电路的可靠性。

设备性能指标：

1、2880 channel，256 PPS；

2、VIH ：+1.2V～+3.8V, VIL：0V；

3、PPS模块：电压范围： -1～4V；

4、PMU模块：电压范围： -1～4V；

5、测试系统频率：200Mhz/400Mbps；

6、Chamber可控温度范围：50℃～125℃, 精度：±3℃。

设备物理位置：

荷清大厦高精尖中心实验室

设备预约方法：

随到随用，清华大学仪器共享服务平台预约优先使用。

工程师联系方式：

邓美静：62799552-1168，dengmeijing@mail.tsinghua.edu.cn