本期培训内容是扫描探针显微镜（AFM）基本知识和操作流程（下），主要包括AFM上机操作（视频时长约43min）和AFM后处理（视频时长约11min），大家可以根据需求查看。

本设备能够在大气环境下准确地观测样品表面微区(纳米及微米尺度)三维形貌，同时可对样品表面物理特性（电学、磁学、力学等特性）进行研究，能测试多种材料如绝缘材料、半导体材料、膜材料、压电/铁电材料、低维纳米材料等。XYZ轴扫描范围为90μm*90μm*10μm，XY方向分辨率为1nm左右（与探针选择相关），Z方向分辨率为0.1nm。样品台直径为8英寸（200mm）。

如需使用该设备可在清华大学大型仪器共享服务平台网页中搜索扫描探针显微镜系统（仪器编号：20004384）获取相关信息。