共聚焦显微镜可以用来表征样品的二维、三维形貌，测量精度可达到亚微米级。本次课程主要介绍共焦模式采集样品、干涉模式采集样品、采集图像后处理和设备使用注意事项等。共焦模式主要用于采集不透明样品表面形貌，干涉模式用于采集半透明膜层。

如需使用该设备，可在清华大学大型仪器共享服务平台网页中搜索共聚焦显微镜系统（仪器编号：A18000075）获取相关信息。